試驗電壓的產(chǎn)生一般要求

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   試驗電壓一般用升壓試驗變壓器產(chǎn)生，也可用串聯(lián)諧振或并聯(lián)諧振回路產(chǎn)生。

試驗回路的電壓應(yīng)足夠穩(wěn)定。不致受泄露電流變化的影響。試品上非破壞性放電不應(yīng)使試驗電壓降低過多及維持時間過長以致明顯影響試品上破壞性放電電壓的測量值。

在非破壞性放電的情況下，除有關(guān)技術(shù)委員會另有規(guī)定外，只要表明試驗電壓值在相應(yīng)放電發(fā)生后的幾個周期時間內(nèi)變化不超過5%，并且非破壞性放電期間瞬時電壓降不超過電壓峰值的20%，則認(rèn)為耐壓試驗通過。試驗回路的特性必須滿足上述要求，它與試驗烈性（干試驗、濕試驗）、試驗電壓水平和試品性能有關(guān)。   

試品和所有外接電容的總電容量應(yīng)足以確保測得的破壞性放電電壓不受試品非破壞性局部放電或預(yù)放電的影響。通常，總電容量在0.5nF~1.0nF范圍內(nèi)就足夠了。

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