高電壓試驗技術(shù)一般要求-串聯(lián)諧振回路

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串聯(lián)諧振回路主要由容性試品或容性負載和與之串聯(lián)的可調(diào)電感以及中壓電源組成。它還可由電容器與感性試品串聯(lián)而成。改變回路參數(shù)或電源頻率，回路即可調(diào)諧至諧振，同時將有一個幅值遠大于電源電壓，且波形接近于正弦波的電壓加在試品上。

諧振條件和試驗電壓的穩(wěn)定性取決于電源頻率和試驗回路特性的穩(wěn)定性。

當試品放電時，電源輸出的電流較小，從而限制了對試品絕緣的損壞。

當試品（如電容器、電纜或氣體絕緣的試品）的外絕緣上泄漏電流同流過試品的電容電流相比很小或者形成破壞性放電的能量很小時，串聯(lián)諧振回路就特別有用，串聯(lián)諧振回路退試驗電抗器也實用。

對淋雨和污穢條件下的外絕緣試驗，串聯(lián)諧振回路可能不適用。

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